《干货篇》C-SAM 超声扫描显微镜：无损检测中声学检测设备

Part.1/ 什么是无损检测？

无损检测是指不破坏被检测材料的结构和二次使用性能的前提下，可以检测材料内部存在的裂纹、空隙、杂质、分层等缺陷，通过物理特性使得缺陷对光、电、磁、声产生不同反应，以此判断出缺陷类型、位置及大小。

往期介绍回顾：

无损检测中常用的方法有射线（RT）、磁粉（MT）、涡流（ECT）、超声（UT）等，其中，超声法检验具有高效，高灵敏对人体无危害等优势，检测领域非常广泛，今天就来说一说超声“代表”设备超声扫描显微镜的那些事儿......

超声扫描显微镜名字有很多种！

Part.2/ 超声扫描显微镜的开端及发展

超声扫描显微镜英文全名为（“Scanning Acoustic Microscope”，简称“SAM”）最早在1936年被苏联科学家索科洛夫提出，当时命名为声学显微镜，是一种通过高频超声波探测样品内部结构的无损伤检测设备，由于他的工作模式以超声C扫描为主，因此也习惯称为超声C扫或C扫设备。不仅如此，此设备具备切片扫描成像功能，因此也可称为超声SAT，目前国际统称设备为超声扫描显微镜，因为设备主要利用水作为耦合介质，故此全称“水浸超声扫描显微镜”20世纪60年代，随着计算机技术的发展，声学显微镜才正式走向实际应用。

21世纪超声扫描显微镜主要用于工业材料内部结构和缺陷的无损检测设备，可以判断材料内部分层、气孔、裂纹和夹杂缺陷，对板棒材、筒材、曲面盘换件具有一定的扫描能力；其工作模式主要有反射和透射两种

在过去的十几年中，图像化超声检测已经成为超声发展趋势，近年来由于特殊构件的“问世”，带动了自动化行业设备的发展，其中C扫描模式成为大家所关注的，因为可以对复杂工件直接展现内部缺陷的状态和位置，减少人为因素误差判断的困扰。

S：声波在水和试件的界面反射回来的界面波

F：出现缺陷回波

B：底面回波

T：起始波

超声扫描显微镜可以显示多种扫描方式，以上为A扫描和C扫描成像，其中A扫描是将超声探头接收到的超声回波信号的显示，可以根据回波幅值信息和扫查深度，判断材料中缺陷深度进行定量分析；C扫描成像是被检测试样的平面图，用不同颜色代表不同幅值的强弱和缺陷形态。

现代超声检测技术可以进一步实现钎焊质量的无损检测，对比金相切割法检测具有明显优势，自动计算钎着率，保留合格产品，剔除废品，加强企业生产的良品率。