超声扫描显微镜(Scanning Acoustic Microscope, SAM)是一种基于超声波成像的无损检测技术,凭借其高分辨率、非破坏性和对内部结构的穿透能力,在半导体、材料科学、电子封装等领域具有显著优势。以下是采声超声扫描显微镜TCS-33HD优点
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